产品特点:
● 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
● 用改良的高真空性能和的电子束稳定性来实现高效率截面观察。
● 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
产品特点:
● 新的电子枪和电子光学设计提高了低加速电压性能。
0.4 nm / 30 kV (SE)
1.2 nm / 1 kV (SE)
0.34 nm / 30 kV (STEM)
● 用改良的高真空性能和的电子束稳定性来实现高效率截面观察。
● 采用全新设计的Super E x B能量过滤技术,高效,灵活地收集SE / BSE/ STEM信号。
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