ELSZ2000粒度仪-激光粒度仪-激光粒度分析仪 产品描述：
Otsuka ELSZ2000粒度仪-激光粒度仪-激光粒度分析仪 是一套功能强大且多用途的界达电位&粒径 测量系统，能高精度地测量稀溶液到浓溶液的zeta电位和粒径，此外还新增加了分子量分析功能(粒径:0.6nm-10um/浓度范围:0.00001%-40%)。电渗透测量能够使用微体(130ul)一次性电池对zeta电位进行高精度分析。此外，新的自动温度梯度功能，扩大了0℃和90℃之间的范围，使熔点和相变点分析成为可能。
工作原理：
粒径的原理：动态光散射法（光子相关法）。分散在溶液中的微粒通常会发生布朗运动。较大的粒子运动较慢，较小的粒子运动较快。当激光在布朗运动的影响下照亮粒子时，来自粒子的散射光会显示出与单个粒子相对应的波动。根据光子检测方法观察到波动，从而计算出粒径和粒径分布。
Zeta电位测量原理：激光多普勒法。在大多数情况下，胶体颗粒具有正电荷或负电荷。当将电场施加到颗粒分散体时，颗粒沿相反电荷的方向迁移。随着粒子在迁移过程中受到照射，散射光会根据电泳迁移率引起多普勒频移，该方法称为激光多普勒法。
电渗透表示在zeta电势测量后细胞内部发生的液体流动。如果细胞壁带电，则介质中的抗衡离子会迁移到细胞壁。这是抗衡离子迁移到细胞壁中的一个电极并迁移到细胞中心附近的另一电极的现象。通过测量表观电泳迁移率并分析电渗，有可能获得考虑到染色细胞的正确固定层并计算正确的界达电位。
使用高浓度电池的Zeta电位测量原理在于，由于多重散射或吸收效应，过去很难测量非常浓稠或着色的样品。目前，ELSZ系列的标准样品池能够测量较宽的样品浓度范围。此外，可以通过FST方法测量高度浓缩样品的Zeta电位。
产品亮点：
- 通过型的高灵敏度APD提高感光度，大大缩短了测量时间
- 搭载自动温度梯度测量功能，可分析变性、变相温度
- 可测量0~90℃宽阔的温度范围
- 增加了大范围分子量测定及解析功能
- 可测量悬浊的高浓度样本粒径、界达电位
- 由实测Cell内电渗透的图示化分析，可提供高精度界达电位测量结果
- 对应高盐浓度溶液界达电位
- 对应小尺寸样本平板界达电位测量
应用范围：
- 纳米生物、医药领域
- 纳米材料、新机能性材料领域
- 食品、化妆领域
- 高分子、化学工业领域
- 精密陶瓷、颜料工业领域
- 半导体领域
技术参数：
测量参数
- Zeta电位：-200 ~ 200 mV
- 迁移率：-20 x 10^-4 ~20 x10^-4 cm^2/V/S
- 粒径：0.6nm~10000nm
- 分子量：360~2000 x 10^4
- 温度：0 ~ 90℃
- 浓度：粒径（0.00001%（0.1ppm）~40%）、Zeta电位：0.001%~40%
- 电源：100V±10%，50/60Hz，250VA
- 尺寸：380W x 600D x 210H
- 重量：约22kg
升级选项：
- pH滴定仪测量
- dn/dc测量
- 各类Cell（微式、可抛式、粒径微量、粒径Flow、平板用、低导电率用等）
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