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原子力-拉曼联用系统

参考价面议
具体成交价以合同协议为准
  • 公司名称HORIBA 科学仪器事业部
  • 品       牌HORIBA
  • 型       号XploRA Nano
  • 所  在  地上海市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2023/8/9 11:16:57
  • 访问次数699
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成立于1819年,Jobin Yvon公司的总部设在高科技发达的法国首都――巴黎。在近二百年的发展中,Jobin Yvon公司始终遵循着创建以来的一贯宗旨——高品质,为客户提供优质产品:

 

 · 1900年 世博会上的干涉仪、光弹性测量仪      
 · 1962年 双级光谱仪和1400系列双级激光拉曼光谱仪以及计算机全控制荧光光谱仪  
 · 1968年 商品化全息光栅      
 · 1973年 相差校正全息光栅(荣获IR100奖)      
 · 1977年 拉曼分子显微探针(IR100奖),顺序扫描型ICP光谱仪    
 · 1975年 全计算机化光子计数拉曼光谱仪和全计算机化光子计数荧光光谱仪  
 · 1983年 离子刻蚀“闪耀”全息光栅    
 · 1985年 光栅型波分复用器    
 · 1989年 超级校正全息光栅和二维成像光谱仪    
 · 1996年 荣获法国CNRS佳椭偏仪奖    
 · 1998年 可配CCD检测器的Triax系列光谱仪(获激光仪诱导发光技术奖)    
 · 1998-1996年 收购美国品牌SPEX、法国Dilor和法国Sofie仪器公司    
 · 2001年 获得美国宇航局(NASA)颁发“宇宙起源摄谱仪光栅接触贡献奖”    
 · 2002年 世界FTIFR联用拉曼光谱仪,在Pittcon展会获得Editor佳新品奖  
 · 2002-2003年 收购德国Philips椭偏仪公司和IBH(英格兰)公司    
 · 2006年 美国宇航局(NASA)喷射推进实验室颁发“运行碳观测器(OCO)衍射光栅杰出贡献奖”

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HORIBA欧洲总部

 

自从1988年合并了美国SPEX公司和1995年合并了法国Dilor,Sofie等公司后,Jobin Yvon公司于1997年加入了仪器制造集团――HORIBA公司,完成了公司强强联手。

 

如今Jobin Yvon在法国、美国、日本、英国、意大利、荷兰设有生产厂家。现在Jobin Yvon公司除了提供各种类型的衍射光栅和离子刻蚀全息光栅外,还提供各种类型的光谱仪产品,如:激光拉曼光谱仪(Raman),荧光(寿命)光谱仪(FL),直读火花光谱仪(SPARK),电感耦合等离子发射光谱仪(ICP),辉光放电光谱仪(GDS),椭圆偏振光谱仪(Ellipsometry),特殊搭建系统(System)及各种光学光谱器件(成像光谱仪,光源,IR检测器,CCD检测器等)。

 

目前,HORIBA Jobin Yvon公司设立了薄膜部、拉曼(光谱仪)部、发射(光谱仪)部、荧光(光谱仪)部、法医部、光学仪器部、光栅&OEM仪器部等7个部门。旨在为您提供强大的技术支持与科研保障!

 

 

 

科学仪器:拉曼光谱分析,拉曼光谱设备,荧光光谱仪,粒度分布仪,粒度分析仪
产地 进口 产品新旧 全新
光谱重复性 <0.1cm-1 空间分辨率 <10nm
低波数 50cm-1 光谱分辨率 1cm-1
光谱范围 50-9000cm-1 仪器种类 显微共焦拉曼光谱
HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统:将AFM的纳米量级高空间分辨率和拉曼指纹光谱技术耦合起来,实现高空间分辨率下物理特性、化学结构测试。
原子力-拉曼联用系统 产品信息

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统详细信息:
    将AFM的纳米量级高空间分辨率和拉曼指纹光谱技术耦合起来,实现高空间分辨率下物理特性、化学结构测试。

HORIBA XploRA Nano原子力-拉曼联用系统产品特点:
● AFM和拉曼同区域成像
● 针尖增强拉曼(TERS)
● AFM光杠杆反馈激光自动准直
● 可同时提供上方、侧向耦合光路,均可使用X100高NA物镜以提高收集效率
● 高频扫描头,对环境噪声不敏感

AFM-拉曼耦联配置 
   HORIBA Scientific拉曼技术可与扫描探针显微镜(SPM)进行耦合,构建一个功能强大且灵活的AFM-拉曼平台。研究人员可根据期望的AFM-拉曼工作模式来选择合适的仪器。
    所有具备激光扫描技术的配置都可以通过对扫描探针上的激光反射进行快速成像或者根据针尖增强拉曼散射信号对热点进行成像,因而该配置能够准确、可靠地将激光定位到SPM探针针尖上。
    高通量的光信号收集和检测硬件保证在快速扫描的同时采集每一点的SPM信号和拉曼光谱。

AFM-拉曼和针尖增强拉曼散射(TERS)

将您的所有需求集成到一个强大的系统中

    我们所提供的解决方案使用直接光路耦合,对其进行优化以实现高通量。该平台可以把原子力显微镜(AFM)、近场光学技术(SNOM,NSOM)、扫描隧道显微镜(STM)和共焦光学光谱仪(拉曼和荧光成像)耦合到一台多功能的仪器中,以实现针尖增强拉曼散射(TERS)或共点测量。

结合纳米成像和化学分析

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单层、双层和三层石墨烯的共点AFM和拉曼成像 

● AFM和其他SPM技术可提供分子级别分辨率下的形貌、力学、热能、电磁场和近场光学特性。
● 共焦拉曼光谱和成像可提供纳米材料在亚微米空间分辨率下的详细化学信息。
● 同步测量的*平台,有助于您获得可靠且位置高度重合的图像。
● 结合高性能和易用性,HORIBA将会根据您所选择的SPM制造商提供一个可靠、全功能的解决方案
● 针尖增强拉曼光谱(TERS)的光学、机械和软件都是经过优化设计的,同时有HORIBA在拉曼光谱几十年的经验做技术支持,您可以自信地使用这一技术。

一个工具多种可能:AFM-拉曼有助于您提高效率

● 快速找到纳米对象
    由于纳米材料具有特殊的化学属性,拉曼峰信号较强,因此在光学显微镜下不可见的纳米材料可以通过超快速拉曼成像进行搜索和定位。在找到样品后,我们可以对感兴趣的位置进行形貌、机械、电学和热能分析。

● 交叉验证您的数据 
    拉曼光谱可以证实材料的某些特性,例如前面研究的石墨烯,AFM形貌的对比度较差而难以确定层厚,拉曼则可以从另外一个角度去获得相同的信息,此外拉曼还提供更多有关结构和缺陷的信息,此信息只有具备原子分辨率的AFM才能提供。

● 获得感兴趣纳米结构的化学信息
    在表征纳米结构时,有时仅获得物理性质是不够的。高分辨的拉曼共焦成像可提供详细的化学成分信息,这是其他SPM传感器无法实现的。

 

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● 探索TERS(针尖增强拉曼散射)领域
   TERS(或纳米拉曼)可以综合两种技术之优势:可获得空间分辨率低至2nm(一般低至10nm)的化学特异性拉曼光谱成像。该技术可用于表征从纳米管到DNA等各种样品。  


多种光学配置HORIBA的AFM-拉曼平台支持多种光学方案:

 

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底部耦联:针对透明样品

顶部耦联:针对共点拉曼或倾斜针尖的TERS

侧向耦联:测定不透明样品的TERS的优解决方案

可提供多端口和并排配置


注:具体配置、价格请咨询当地销售工程师

 

 

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