薄片厚度测试仪 复合材料测厚仪 返回列表页

                                                                薄片厚度测试仪 复合材料测厚仪

 HP-CHY-G薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

技术特征

◎测量头自动升降，避免了人为因素造成的系统误差

◎微电脑控制、大液晶显示

◎手动、自动双重测量模式，更方便客户选择

◎配备微型打印机，数据实时显示、自动统计、打印，方便快捷地获取测试结果

◎测厚仪自动保存最多100组测试结果，随时查看并打印

◎标准量块标定,方便用户快速标定设备

薄片厚度测试仪 复合材料测厚仪

测试原理

HP-CHY-G薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。

测试标准

该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。